RST内存检测软件使用说明
RST内存检测软件使用说明
Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式他其实是从其他的产品独立出来的一项测试该公司专作系统测试的软硬体方便生产厂商将产品做详细测试至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题所以是非常好用的一个测试工具
使用非常简易只要设定为软碟开机就行了他是一个独立开发的系统没有依附任何作业系统相容于x86系列只要BI OS认的到的容量他都能测
发现ATS选项错误在BIOS中记忆体选项设成Auto时记忆体的CL=2改成Manual 自设CL=2.5时上述选项才能通过。
附件IMZ需要用winImage展开到软盘上然后用此软盘启动系统。
附件NRG是用N ero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。
程序执行后第一选项是测试物理内存中基本内存地址<640K第二项是扩展内存地址第三项是测试你CPU的L2 cache。
☆ 可以测试SD及DDR内存。
☆ 闪动数字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数 0-7代表第1颗粒区域、 8-F代表第2颗粒、 0-7代表第3颗粒、 8-F代表第4颗粒、 0-7代表第5颗粒代、 8-F代表
第6颗粒、 0-7代表第7颗粒、 8-F代表第8颗粒
☆ 点不亮内存的测试方法——很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮点不亮的可以用一根好的内存去带动它可解决部分点不亮问题 。必须SD的带SD的 DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的去检测坏的那根。
☆ 发现ATS选项错误在BIOS中记忆体选项设成Auto时记忆体的CL=2改成Manua l 自设CL=2.5时上述选项才能通过。☆ 程序执行后第一选项是测试物理内存中基本内存地址<640K第二项是扩展内存地址第三项是测试CPU的L2 cache。
RAM测试软件说明书
(R.S.T )UX版
闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。
从左至右 0-7代表第一区域 8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。
⒈DDR8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经
损坏
⑵. 8-F(2 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7 )区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1-16M
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16-32M
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32-48M
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48-64M -----------------------------------------------------
--------------------------------------------------------
从1 M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
64-80M
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80-96M
-----------------------------------------------------------
--------------------------------------------
96-112M ----------------------------------------------------
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112-128M ---------------------------------------------------
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从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题(判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明)
注意:在内存的P CB板上的两边标着1与92的代表第一面 93与184的代表第二面。 1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
⒊SD的8位与16位的单面测法:
⑴. 0-7(1)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵. 8-F(2)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶. 0-7(3)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷. 8-F(4)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸. 0-7(5)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹. 8-F(6)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺. 0-7(7)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻. 8-F(8)区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
注 PCB板上从1到84为第一面颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1切记注意
4.通过以上的介绍说明SD的双面是跟DDR的是一样的。但是颗粒的好坏判断要按照
它们的排列循序来判断。
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:如果在8根虚线上都出现乱码说明这根内存的PCB板有问题
6.点不亮的内存的测试方法:很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮点不亮的可以用一根好的内存去带动它。 必须SD的带SD的DDR的带DDR的。本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。
7.使用方法:直接把光盘插入光驱,在主板的CMOS里设置光驱起动,启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测
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