E1抗干扰开发系统(EFT突发干扰)定位电磁敏感点,测量瞬态电磁场的空间分布,评估电路对瞬态电磁场的抗干扰能力产品的抗干扰设计,来源于企业对产品质量的追求,同时也是电磁兼容测试标准的要求.
由于瞬态干扰具有快速和宽频谱等特点,传统的示波器和频谱分析仪等手段都无法准确测量瞬态电磁场.
产品的抗干扰设计,只能在产品最终测试阶段来考虑,采取的手段是屏蔽或者滤波,对外界干扰进行隔离或者直接引到接地系统.
LANGER抗干扰开发系统,采用特殊的瞬态信号发生器和瞬态电磁近场探头组,利用脉冲率测试法,能准确测量瞬态电磁场的空间分布,评估电子产品内部关键电路的抗干扰能力,定位PCB板上的电磁场敏感点,使工程师在设计阶段排除电磁敏感性问题,提高产品设计质量,增强产品的稳定性和可靠性.
在电磁兼容测试要求中,下列测试项目为突发干扰测试项目:IEC61000-4-4(国标GB/-17626.
4):电快速瞬变脉冲群抗扰度试验IEC61000-4-2(国标GB/-17626.
2):静电放电抗扰度试验GJB151A/151A-CS115:电缆束注入脉冲激励传导敏感度GJB151A/152A-CS105:瞬变电磁场辐射敏感度海洋仪器推出LANGER抗干扰开发系统,能对被测物施加突发干扰,再现被测物出现故障的现象;能采用不同的方式,向电子模块直接注入突发性的电场干扰或磁场干扰,从而定位电路板上的电磁薄弱点,理解耦合机理,并完成最优化的设计修改.
LANGER抗干扰开发系统由信号源、场源组、近场探头组和计数器等组成,包括如下设备:E1抗干扰开发系统、S2瞬态磁场探头组、无扰传输光纤探头组等.
测试原理和组成抗干扰(immunity)调试方法LANGER抗干扰开发系统中的多种工具能帮助你采用多种策略来检测最复杂的抗(突发)干扰问题.
1、具有隔离输出功能的SGZ21高压发生器,能对PCB板直接施加突发干扰,分析干扰电流路径,并判断是磁场敏感还是电场敏感;2、用场源来定位故障点,包括多种磁场场源和电场场源,最小分辨率小于1mm,用于精确定位电路敏感点位置;3、采用瞬态磁场探头,测量磁突发强度,从而测量和分析干扰电流的路径;4、采用多种传感器,监测PCB板上的关键信号线、电源、地、电缆、接插件等被干扰的情况;5、采用脉冲率测试法,快速评估电路修改、屏蔽、滤波的有效性.
E1系统中有一个传感器,这个传感器的输出,可以连接到SGZ21的光输入端口,SGZ21内置有一个对光输入信号进行计数的计数器,用于计算传感器发出的干扰信号的数量,这样,你能在几秒钟内评估设计修改的合理性,从而节省大量的开发时间.
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